1. Digital integrated circuits :design-for-test using Simulink and Stateflow
پدیدآورنده : Perelroyzen, Evgeni.
کتابخانه: كتابخانه پژوهشگاه نیرو (تهران)
موضوع : Testing ، Digital integrated circuits,Design and construction ، Digital integrated circuits
2. Digital system test and testable design
پدیدآورنده : / Zainalabedin Navabi
کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)
موضوع : Digital integrated circuits, Testing,Digital integrated circuits, Design and construction,Verilog (Computer hardware description language)
رده :
E-BOOK
3. Digital system test and testable design
پدیدآورنده : / Zainalabedin Navabi
کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)
موضوع : Digital integrated circuits, Testing,Digital integrated circuits, Design and construction,Verilog (Computer hardware description language)
رده :
TK7874
.
N38
2011
4. Digital system test and testable design
پدیدآورنده : Zainalabedin Navabi
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اطلاع رسانی دانشگاه شاهد (تهران)
موضوع : Digital integrated circuits, Testing,Digital integrated circuits, Design and construction,Verilog (Computer hardware description language)
رده :
TK
،
7874
،.
N38
،
2011
5. Digital systems testing and testable design
پدیدآورنده : Abramovici, Miron.
کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی امیرکبیر (تهران)
موضوع : Digital integrated circuits - Testing , Digital integrated circuits - Design and construction
رده :
TK
7874
.
A23
6. Digital systems testing and testable design
پدیدآورنده : Abramovici, Miron.
موضوع : ، Digital integrated circuits-- Testing,، Digital integrated circuits-- Design and construction
۶ نسخه از این کتاب در ۶ کتابخانه موجود است.
7. Digital systems testing and testable design /
پدیدآورنده : Miron Abramovici, Melvin A. Breuer, Arthur D. Friedman.
کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)
موضوع : Digital integrated circuits-- Design and construction.,Digital integrated circuits-- Testing.,Digital integrated circuits-- Design and construction.,Digital integrated circuits-- Testing.
رده :
TK7874
.
A23
1990b
8. High-level test synthesis of digital VLSI circuits
پدیدآورنده : Lee, Mike Tien-Chien
کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتی شریف (تهران)
موضوع : ، Integrated circuits-- Very large scale integration-- Design and construction-- Data processing,، Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing-- Data processing,، Computer-aided design,، Digital integrated circuits-- Testing-- Data processing
رده :
TK
7874
.
75
.
L44
1997
